Agilent הכריזה כי ה-Scanning Microwave Microscopy Mode הוא אחד הזוכים בפרס Prism לשנת 2009, שמוענק על-ידי שופטי SPIE והוועדה המייעצת לכתב העת Photonics Spectra. הפרס ניתן בזכות חדשנות בתחום הפוטוניקה, בקטגוריית “ניתוח, בדיקה ומדידה”. ה-SMM Mode מאפשר מיפוי תכונות החומר ברזולוציה שמוגבלת רק על-ידי החדות של probe ה-AFM. הוא ניתן לשימוש על מוליכים למחצה, מתכות, חומרים דיאלקטריים, חומרים ברזלו-חשמליים, מבודדים וחומרים ביולוגיים. הוא מודד תכונות המשויכות לתנודות קלות באינטראקציה האלקטרומגנטית שבין רכיבי הדגימה לבין אות המיקרוגל.
