מערכת ה – ELIPSON™ מאפשרת שיפור ביצועים וקיצור זמן הגעה לשוק של מוצרים באמצעות טכנולוגיה ייחודית של הנדסת חומרים
רחובות, 1 בדצמבר, 2020 – נובה (ת”א: נובה, נאסד”ק: NMVI), הודיעה היום על השקת Nova ELIPSON™, פתרון מהפכני למדידת חומרים בתהליך ייצור השבבים. הפלטפורמה החדשה מיועדת למדידת מגוון תכונות חומרים כגון לחץ, מתח ותכונות פני-שטח בשבבים מסוגים שונים. Nova ELIPSON™ היא מערכת חדשה לחלוטין, המשלבת יכולות פורצות דרך שאינן זמינות במערכות המטרולוגיה הקיימות כיום בשוק. המערכת כבר מותקנת אצל מספר לקוחות והחברה מצפה להכיר בהכנסות כבר ברבעון הרביעי של 2020.
האבולוציה של תעשיית המוליכים למחצה מחייבת שיפורי ביצועים בכל דור חדש של טכנולוגיה שמוצגת לשוק. שימוש בחומרים ייחודיים הולך וצובר תאוצה כחלופה משמעותית ברבים משלבי הייצור בתעשייה, בין היתר לאור העובדה שמזעור ושינוי הארכיטקטורה כבר אינן השיטות היחידות להשגת שיפורים.
פלטפורמת ה – ELIPSON™ משתמשת בטכנולוגיית Raman Spectroscopy למדידת חומרים אופטית על מנת להפיק מידע על תכונות חומרים בתוך השבב בצורה מהירה ולא הרסנית, וזאת בניגוד לשיטות הקיימות היום. מדידות בטכנולוגיית Raman קיימות במעבדות כבר שנים רבות, אולם רק לאחרונה הצליחה נובה לפתח את השיפורים הנדרשים ולמצוא דרך חדשנית ליישם את הטכנולוגיה במערכות מטרולוגיה, ברמת האמינות והיציבות הנדרשת בתעשיית השבבים המתוחכמת.
“הנדסת חומרים הופכת לרכיב קריטי בפיתוח שבבים בדורות החדשים והמטרה שלנו היא להרחיב את סל המוצרים שלנו כדי לתת מענה לשוק מתפתח זה “, אמר איתן אופנהיים, נשיא ומנכ”ל נובה. “השקעות מסוג זה בטכנולוגיות מחקר חדשניות עולות בקנה אחד עם האסטרטגיה ארוכת הטווח שלנו לצמיחה אורגנית, הענקת ערך מוסף ייחודי ללקוחות ויצירת בידול מוצרי בשוק”.
תמונות קרדיט: NOVA
