חדשות היום

קטגוריה: New-Tech Magazine

השילוב המנצח

נובמבר 28, 2010 סגור לתגובות על השילוב המנצח

“השוק הישראלי אמנם קטן יחסית לעולם אך עשיר בחברות איכותיות בעלות מודעות טכנולוגית רבה. עם רצונן של החברות שלא להתפשר על טכנולוגיות שאינן איכותיות דיין, הן נאלצות לציית לתנודות הכלכליות... כתבה מלאה

Xilinx השיקה את סדרת 7 החדשה בטכנולוגיית 28 ננומטר

נובמבר 28, 2010 סגור לתגובות על Xilinx השיקה את סדרת 7 החדשה בטכנולוגיית 28 ננומטר

מאת: אריק ויינשטיין בכנס שערכה החברה לקהל לקוחותיה בישראל ובהשתתפות נשיא ומנכ”ל זיילינקס העולמית משה גבריאלוב ומנכ”ל זיילינקס ישראל – גדעון קדם, השיקה החברה את סדרת -7 החדשה בטכונולוגיית 28... כתבה מלאה

שרשרת הצלחות

נובמבר 28, 2010 סגור לתגובות על שרשרת הצלחות

מאת: אמיר בר שלום. זה לא סוד שבתערוכת אלקטרוניקה השנה נראו הרבה מאד חיוכים. שלושת הרבעים הראשונים של 2010  היו מצוינים כמעט לכל התעשייה, כל שכן כשמדובר בTTI האמריקנית. צפי... כתבה מלאה

לייזרי מפל קוונטיים להספק גבוה

לייזרי מפל קוונטיים להספק גבוה

נובמבר 28, 2010 סגור לתגובות על לייזרי מפל קוונטיים להספק גבוה

C. Kumar N. Patel, Pranalytica לייזרי מפל קוונטיים (Quantum Cascade Laser – QCL) בהספק גבוה לתחומי האינפרה אדום בגלים בינוניים (MWIR) ובגלים ארוכים (LWIR) משמשים ביישומים חדשים, כגון הגנה על... כתבה מלאה

טכנולוגיית CMOS מדעית

טכנולוגיית CMOS מדעית

נובמבר 28, 2010 סגור לתגובות על טכנולוגיית CMOS מדעית

Laura Dears, Andor Technology תאור החידוש ה”CMOS המדעי” (sCMOS) של Andor היא טכנולוגיה פורצת דרך המבוססת על תכנון וייצור חיישן הדמיה CMOS מהדור הבא. שלא כמו דורות קודמים של חיישנים... כתבה מלאה

תערוכת אלקטרוניקה 2010 מאשרת מגמה כלפי מעלה בתעשיית האלקטרוניקה

נובמבר 28, 2010 סגור לתגובות על תערוכת אלקטרוניקה 2010 מאשרת מגמה כלפי מעלה בתעשיית האלקטרוניקה

מאת: אמיר בר שלום, אורנה גדאל,חיים קורן, חלי פומרנץ גרבר. מספר המבקרים בתערוכת אלקטרוניקה [electronica 2010] שנערכה במינכן, נשאר גם הוא ברמת עלייה קבועה בשנת 2010, עם יותר מ–70,000 מבקרים.... כתבה מלאה

דיגום ספקטראלי במיקרוסקופיה פלואורסצנטית – חלק א

דיגום ספקטראלי במיקרוסקופיה פלואורסצנטית – חלק א

נובמבר 28, 2010 סגור לתגובות על דיגום ספקטראלי במיקרוסקופיה פלואורסצנטית – חלק א

מיקרוסקופיה פלואורסצנטית היא טכניקה אוניברסלית המתפתחת כל העת המאפשרת מבט בתוך העולם הביולוגי בקנה-המידה של אורך מיקרוני ופחות מזה, והמאפשרת גישה ישירה לתוך המקום המרחבי וההתנהגותי של פרודות קטנות ברמת... כתבה מלאה

מערכות בריבוי ליבות – איתור שגיאות וביצועים

מערכות בריבוי ליבות – איתור שגיאות וביצועים

נובמבר 28, 2010 סגור לתגובות על מערכות בריבוי ליבות – איתור שגיאות וביצועים

Haim Cohen, Freescale Israel הצעד הראשון בדרך לפתרון בעיה הוא יכולתנו לראות אותה. בפיתוח תוכנה בריבוי ליבות (multicore) קיימים אתגרים רבים, ויש חשיבות רבה ליכולת הצפייה בנתונים. עיבוד אסימטרי בהתקנים... כתבה מלאה

התקן דימות CMOS היפר-ספקטרלי

נובמבר 28, 2010 סגור לתגובות על התקן דימות CMOS היפר-ספקטרלי

P.A.Jerram, M.Fryer, J.Pratlong, A.Pike, A.Walker, B.Dierickx ,B.Dupont, A. Defernez e2v technologies . Caeleste CVBA התקנים צמודי מטענים (CCD) משמשים כבר שנים רבות לדימות היפר-ספקטרלי ובהצלחה רבה. ביניהם MERIS (ספקטרומטר דימות... כתבה מלאה

מאפייני העצמה התעשייתית משפיעים על העיבוד המשובץ

מאפייני העצמה התעשייתית משפיעים על העיבוד המשובץ

נובמבר 28, 2010 סגור לתגובות על מאפייני העצמה התעשייתית משפיעים על העיבוד המשובץ

David Katz & Rick Gentile, Analog Devices מעבדי אותות לשימוש כללי רבים קבילים לצורכי יישומים תעשייתיים המבוססים על ביצועי המחשוב ומאפייני הקישוריות בשורת הבסיס שלהם. אולם, קיימים שיפורים היקפיים חשובים... כתבה מלאה